- •Министерство общего и профессионального образования российской федерации
- •Учебное пособие Воронеж 2000
- •Учебное издание
- •394026 Воронеж, Московский поспект, 14
- •1. Тестовое диагностирование в цифровой технике:
- •1.1. Введение
- •1.2. Тестовое диагностирование в цифровой технике: цепи и терминология
- •1.3. Процедуры и проблемы программного тестирования
- •1.4. Необходимость проектирования тестопригодных схем
- •2. Анализ тестопригодности: система camelot
- •2.1. Количественная оценка тестопригодности
- •2.2 Принципы вычисления управляемости
- •2.3 Принципы вычисления наблюдаемости
- •2.4 Принципы вычисления тестопригодности
- •2.4.1. Тестопригодность как функция управляемости и наблюдаемости
- •2.5. Применение системы camelot на практике.
- •2.5.1. Количественная оценка проектируемых схем.
- •2.5.2. Автоматический выбор контрольных точек.
- •2.5.3 Методика генерации тестов вручную.
- •2.5.4. Методика автоматической генерации тестов
- •2.6. О других системах анализа тестопригодности
- •2.7. Заключительные замечания о методах анализа
- •3. Методы структурного проектирования
- •3.1. Принцип метода сканирования: сканируемый путь
- •3.2. Сканирование с произвольным доступом
- •3.3. Метод сканирования, чувствительного к уровню тактового сигнала
- •3.4. Недостатки и достоинства методов сканирования
- •3.5. Методы самотестирования: bilbo
- •3.5.3. Устройство встроенного поблочного диагностирования логических схем (bilbo)
- •3.6. Заключительные замечания о методах сканирования
- •4. Генерация тестов для схем, реализующих принцип сканирования
- •4.1. Алгоритм podem, условные обозначения, понятия и принципы
- •4.1.5. Вычисление относительных значении управляемости
- •4.2. Процедура podem
- •4.2.1. Пример 1. Основной принцип podem
- •4.2.2. Пример 2. Многомерный d-проход
- •4.2.3. Пример 3. Переопределение состояний первичных входов
- •4.2.4. Заключение относительного алгоритма podem
- •4.3. Процедура raps
- •4.3.1 Пример 4. Процедура raps
- •4.3.2. Заключение о процедуре raps
- •4.4. Методика выполнения процедур raps и podem
- •4.4.1 Использование статического сжатия тестов
- •4.4.2. Использование динамического сжатия тестов
- •4.5. Замечание относительно процедуры моделирования неисправностей
- •4.6. Заключительные замечания о процедурах podem и raps
- •5. Практические рекомендации по проектированию тестопригодных схем
- •5.1. Средства поддержки процедуры генерации тестов
- •5.2. Средства поддержки процедур тестирования и поиска неисправностей
- •Содержание
4.2.4. Заключение относительного алгоритма podem
Завершая обсуждение алгоритма PODEM, обратимся к обобщенной блок-схеме этого алгоритма верхнего уровня.
Рис. 4.9. Контрпример схемы Шнейдера
На рис.4.9 представлена схема, по которой читатель при желании может оценить свое понимание PODEM. Схема, известная как контрпример Шнейдера, имеет сложную симметричную структуру. Особенно интересно найти тест для неисправности G 2.4 н-к-0.
4.3. Процедура raps
В гл. 3 обсуждалась возможность быстрого получения существенного покрытия неисправностей с помощью подачи в комбинационную схему псевдослучайных входных наборов. Процедура активизации произвольного пути (RAPS) является вариантом процедуры PODEM, согласно которому выполняется поиск значений первичных входов схемы, обеспечивающих вероятность покрытия неисправностей из заданного класса выше среднего уровня. При выполнении процедуры RAPS это осуществляется путем взвешенных попыток максимизировать число активизированных путей через всю схему к первичным выходам. Определено, что для схем с высоким коэффициентом разветвлений входов и выходов процедура RAPS более эффективна (выше уровень покрытия неисправностей на тест), чем псевдослучайные методы, основанные, например, на использовании сдвигового регистра с линейной обратной связью.
Процедуры PODEM и RAPS различают по трем основным признакам.
А. Исходным в процедуре PODEM является «нахождение теста для заданной неисправности». Исходным в процедуре RAPS – произвольный «выбор любого первичного выхода и произвольное присвоение ему значения 0 или 1». Другими словами, процедура PODEM ориентирована на наличие неисправности, в то время как RAPS не зависит от неисправности.
Б. В процедуре RAPS, как и в PODEM, используется обратный проход при определении значений первичных входов, обеспечивающих требуемое значение первичного выхода, однако концепция «самой легкой или самой сложной» управляемости заменяется «произвольным выбором».
В. Каждый проход в процедуре RAPS не зависит от любого другого прохода. Единственная информация, которая сохраняется во время прохода, это установленные значения на первичных входах и полученные логические состояния внутренних соединений. Не запоминается даже значение сигнала на выбранном первичном выходе. Этим подразумевается, что генерируется множество ПВх-определений, которое может устанавливать на выбранном первичном выходе значение сигнала, инверсное начальному. Целью процедуры RAPS является обеспечение высокой степени покрытия неисправностей с помощью максимизации числа активизированных путей. Выбранный первичный выход с установленным логическим состоянием является удобной стартовой позицией для полного достижения этой цели.
Как и при рассмотрении процедуры PODEM, знания о процедуре RAPS будем углублять на примере схемы, представленной на рис.4.6. В дальнейшем используется запись:
OB (G 3.12 = 0) : – G 3.2/R (=A*) = 1,
которая означает, что установка 0 в целом узле G 3.12 достигается, в частности, произвольным выбором одного из Х-входов G3 (в данном случае выбран вход G 3.2) и установкой на нем уровня 1. В рассматриваемом примере вход G 3.2 соединен с первичным входом А*. Буква R после G 3.2 означает, что G 3.2 выбран произвольно из множества входов вентиля G3, имеющих неопределенное состояние X. Заметим, что установка значения 1 на входе G 3.2 производится детерминировано, а не произвольно Это значение определяется типом вентиля.