книги / Моделирование и автоматизация проектирования силовых полупроводниковых приборов
..pdfПри расчетах k<>, а затем и т'лг по (6.33) можно пользоваться усредненным значением Wn на этапе обратного смещения тири стора.
Для оценок снизу можно принять, что Wt3= W 3.
После определения Q2{t0) и т'лг время выключения тиристора tq может быть рассчитано из выражения, аналогичного получен ному в [2 .6];
отоФг(^о) |
(6.37) |
|
^ - V . ln QKp- Q HaK+ m0Q/t |
||
|
где плотности критического заряда включения тиристора QKP, за ряда, накапливаемого под воздействием емкостного тока коллек торного перехода на этапе нарастания импульса анодного напря
жения, QiiaK и заряда обратносмещенного анодного перехода |
Qh |
||
рассчитываются соответственно по (6.9) или (6.10), |
(6.27) |
или |
|
(6.28) |
и (6.20) или (6.22) [2.6]. |
|
(при |
В |
(6.37) т 0— коэффициент эффективности начального |
||
t = t 3, см. рис. 6.5) заряда в базе п\. |
(6.37) |
и в |
|
Из |
сравнения подлогарифмических выражений в |
||
(6.26) |
и (6.30) работы [2.6] получим, что при начальном распре |
||
делении заряда в базе п\ по гиперболическому синусу |
|
|
* |
" |
t K * ’sh7 f r 7 s W |
~ (ch7f c |
ch^ * - 0 ]х |
||
|
|
x ( c h - | i - - - l ) |
‘ schxjir,*, |
(6.38) |
||
а |
при |
равномерном |
распределении |
начального |
заряда в Ях-базе |
|
имеем |
Q,-x= 0 и |
VTL ( |
х |
\-*'2 |
|
|
|
|
|
|
|||
|
|
и . ’— |
¥ г ( 1+ |
^ |
) |
(6-39) |
где Трг — время жизни дырок в базе rii (при низком или высоком уровне инжекции); k2=il при низком и k2=2b/(b+1 ) при высо ком уровне инжекции в базе П\\ тн— постоянная времени нара стания тока в открытом состоянии тиристора, рассчитывается по (6 .8) работы [2 .6]; W2* — эффективная толщина базы пх (с уче том модуляции ее толщины при приложении анодного напряже ния UD в закрытом состоянии тиристора);
При линейном распределении начального заряда в базе п\ (концентрация дырок возрастает в направлении от анодного к коллекторному переходу) аналогично можно получить, что
тлъ .‘ th K .n V + s c h x .B V -1). (6.40)
Рассмотрим в качестве примера расчет времени выключения тиристора с теми же значениями параметров, которые были ис пользованы выше при расчетах зависимости Q2(*o) от а0 (см рис.
9* 131
6.7). Положим, что время выключения измеряется в режиме: 1Т= =250 А, ао=25 А/мкс, обратное напряжение £/Л=100 В, ампли туда импульса напряжения в закрытом состоянии С/и=.Ю00 В и скорость его нарастания dufdt= 100 В/мкс. Значения плотности
тока насыщения катодного перехода Jsjt и сопротивления расте кания рг-базы RSp при 400 К были приняты равными 2,4Х X10"s А/см2 и 2-103 Ом соответственно. Значения времен жизни при 400 К были приняты равными: т/,2— 10 мкс, т /,2 = т л з = 5 мкс при ВЫСОКИХ И Тр2 = ' 6 МКС, Тяэ = 3 мкс при низких уровнях инжек ции в базах тиристора. Концентрация доноров Nо в базе th пола галась равной примерно 8,3-ПО13 см-3 (рп^'60 Ом-см), а напря женность встроенного электрического поля Е03 — примерно 25 В/см (при 400 К).
Положим, что на этапе спада тока в открытом состоянии и па этапе обратного смещения тиристора в базе п\ реализуется вы сокий, а на этапе нарастания анодного напряжения — низкий или высокий уровень инжекции. Тогда по (6.37) с учетом (6.40), ис пользуя соответствующие соотношения работы [2.6] для расчета QKP, <2нак и QJt получаем, что в рамках линейной модели ^ = 6 4
и81 мкс соответственно при низких и высоких уровнях инжекции
вбазе th на этапе нарастания анодного напряжения.
Учет рекомбинации в эмиттерах приводит к уменьшению tq соответственно до значений, равных примерно 40 и 56 мкс, т. е. примерно в 1,6 и 1,45 раза.
В рассматриваемом случае выполняется неравенство, противо положное (6.35). Тогда из (6.33) с учетом (6.36) полагая, что Ц7{3=Ц73= 60 мкм, получаем, что т'^^О.ббтйг, и, следовательно, учет электронной составляющей тока коллекторного перехода па этапе обратного смещения тиристора приводит к дальнейшему уменьшению значений tq примерно в 1,'6 раза. Значения tq при этом равны примерно 25 и 35 мкс соответственно при низких и высоких уровнях инжекции в базе пх на этапе нарастания анод ного напряжения.
6.3. КОМБИНИРОВАННО-ВЫКЛЮЧАЕМЫЙ ТИРИСТОР И ПЕРЕХОДНЫЙ ПРОЦЕСС ЕГО ВЫКЛЮЧЕНИЯ
Как следует из самого названия, эти тиристоры выключаются комбинированным способом — сменой полярности напряжения в цепи анод— катод и одновременно подачей на управляющий электрод обратного тока / Л . Комбинированио-выключаемые ти ристоры (КВТ) занимают, таким образом, промежуточное поло жение между обычными тиристорами, которые выключаются только.сменой полярности напряжения в силовой цепи анод — ка тод, и запираемыми тиристорами, которые выключаются только путем подачи обратного тока на управляющий электрод.
Основным достоинством КВТ является существенно, в не сколько раз меньшие значения времени выключения, чем для
132
обычных быстродействующих ти ристоров. Это уменьшение вре мени выключения в 2—4 и бо лее раз достигается при отно сительно небольших значениях 1па (не более 2—3 % амплитуд ного значения тока /г через ти ристор в открытом состоянии).
Следует отметить, что, несмот ря на уменьшение tq, коммутаци онные потери в процессе выклю чения, которые выделяются глав ным образом на этапе спада обратного тока, для КВТ остают ся практически такими же, как и для соответствующих тиристоров,
выключаемых ТОЛЬКО ПО цепи анод — катод. Обусловлено это тем, что при относительно малых
значениях отношения JRC/IT и при достаточно больших скоро
стях спада тока в открытом состоянии воздействие импульса тока Inc практически не влияет на амплитуду и форму обратного тока через тиристор в процессе его выключения.
Другим, основным препятствием на пути широкого использо вания КВТ является достаточно серьезное усложнение системы управления тиристором, а также зачастую отсутствие прочих эле ментов схемы (например, конденсаторов), позволяющих реализо вать высокое быстродействие КВТ.
Конструктивно КВТ отличаются от соответствующих быстродействующих тиристоров, выключаемых только по цепи анод — катод, более высокой сте пенью разветвления управляющего электрода основной структуры. В качестве примера на рис. 6.9,а изображена в плане многоэмиттерная конструкция основной структуры КВТ. Катодные эмиттеры имеют форму правильных шестиугольников, которые вписываются в окружности диаметром не более 2— 3 мм. Для уменьше ния падения напряжения на сопротивлении базы р2 под катодным эмиттером ВС при протекании тока 1яс либо это сопротивление шунтируется диодом, либо КВТ изготавливается с двумя управляющими электродами (рис. 6.9,6). Включение КВТ осуществляется при этом подачей импульсов тока /с на управляющий электрод G|, а при выключении импульс тока 1Кс подается на электрод G2. Существуют конструкции, в которых диод VD0 изготавливается на той же полупроводнико вой пластине, что и1сама многослойная структура КВТ.
Первые публикации о комбинированном способе выключения тиристоров спе
циальной конструкции |
появились |
в 1974 г. [6.15, 6.16]. В последующие годы |
был опубликован еще |
ряд работ |
[6.17— 6.19], посвященных экспериментальным |
исследованиям КВТ.
Подробная физическая модель процесса выключения тиристора комбиниро ванным способом была впервые предложена в [6.11]. В последующем, скорее, качественная, чем количественная расчетная модель этого процесса с учетом
133
|
|
|
|
двумерных |
|
эффектов |
была |
развита |
||||
|
|
|
|
в [6.20]. В [6.11] на образцах с низкой |
||||||||
|
|
|
|
степенью |
легирования |
базы |
наблюда |
|||||
|
|
|
|
лось существенное (в 2— 3 раза) умень |
||||||||
|
|
|
|
шение tq |
при |
воздействии импульса тока |
||||||
|
|
|
|
h a на этапе |
обратного |
смещения тири |
||||||
|
|
|
|
стора. Этот эффект объяснен тем, что |
||||||||
|
|
|
|
воздействие тока IRG увеличивает элек |
||||||||
|
|
|
|
тронную компоненту тока через коллек |
||||||||
|
|
|
|
торный переход на данном этапе. Имен |
||||||||
|
|
|
|
но эта модель и была в последующем |
||||||||
|
|
|
|
развита |
в |
[6.20]. |
|
|
|
|||
|
|
|
|
В |
[6.13] |
|
исследована |
одномерная |
||||
|
|
|
|
модель процесса комбинированного вы |
||||||||
Рис. 6.10. Простейшая |
конструкция |
ключения тиристора. Она отличается от |
||||||||||
тиристора с зашунтированным катод |
нелинейной |
модели процесса выключения |
||||||||||
ным переходом (а) и зависимости на |
по цепи |
анод — катод, |
рассмотренной в |
|||||||||
пряжения па |
катодном |
переходе |
от |
этой же работе |
(суть этой модели корот |
|||||||
координаты |
(б) при |
1Яв = 0 (1) |
и |
ко изложена |
в |
§ 6.2), только тем, что |
||||||
/лс>0 (2) |
|
|
|
|||||||||
|
|
|
плотность тока через катодный переход |
|||||||||
|
|
|
|
|||||||||
принимается равной разности плотностей тока |
в открытом состоянии JT и обрат |
|||||||||||
ного тока управляющего электрода JRG . Э т о й |
модели |
присущ |
тот |
же |
недоста |
ток, который был отмечен в § 6.2 для модели процесса выключения обычного тиристора. Кроме того, процесс комбинированного выключения является суще ственно неодномерным процессом, и для него более оправданным является использование иеодномерной модели.
Экспериментальные исследования, выполненные в ряде работ, в том числе и в [6.21], показали, что в наиболее широко применяемых конструкциях КВТ воз действие импульса тока I RG на этапе обратного смещения тиристора приводит к уменьшению ta не более чем на 15—20 %. Поэтому в [6.22] была предложена неодномерная модель процесса выключения КВТ, учитывающая воздействие IRG на tq только на этапе нарастания анодного напряжения.
Комбинированное выключение, обеспечивающее уменьшение t q, используется, как правило, в тех случаях, когда необходимо высокое быстродействие. Скорости
спада тока в открытом состоянии при этом достаточно высокие (десятки |
ампер |
|||||||||
за микросекунду), н |
при IRG/ITK: 0,02-4-0,03, |
как |
это обычно имеет место на |
|||||||
практике, воздействие |
импульса |
I RG на этапе |
спада |
тока |
в открытом |
состоянии |
||||
слабо влияет на tq [6.11, 6.13, 6.22]. |
|
|
|
|
|
|
|
|||
На этапе обратного смещения тиристора |
ток I RG оказывает |
влияние |
на tq |
|||||||
только |
при выполнении неравенства (6.35). Наибольшее |
влияние |
на |
t q |
дости |
|||||
гается |
при таком значении / лс, |
когда катодный переход |
смещается |
в |
обратном |
|||||
направлении и при выполнении |
неравенства (6.35). При расчетах |
в |
этом |
случае |
||||||
х'лг в выражение (6.33) подставляется значение ко, |
рассчитанное по |
(6.36). |
||||||||
Для учета влияния импульса тока I RC |
на tq |
на этапе нараста |
ния анодного напряжения воспользуемся моделью, предложенной в [6.22]. Рассмотрим упрощенный вариант конструкции тиристо ра, выключаемого комбинированным способом (рис. 6.10,а), и
134
примем, что к началу рассматриваемого этапа избыточный заряд в базе п\ распределен равномерно вдоль оси у в пределах обла сти 0 ^ у ^ 1 э-
При |
разомкнутой цепи управляющий электрод— .катод, т. е. |
|
при IRG= 0, часть дырок, поступающих в базу р2 через |
коллек |
|
торный |
переход на рассматриваемом этапе, выводится |
из этой |
базы через технологический шунт катодного перехода. Продоль ный (вдоль оси у) ток дырок приводит к изменению напряжения на катодном переходе вдоль оси у.
Напряжение £//, достигает максимального значения при у=О (кривая 1 на рис. 6.10,6). Если максимальное значение Ufa>U%f,
(при JRG= 0), тиристор переходит в открытое состояние. При ^nG>0 часть дырок, поступающих в базу р2, выводится из этой базы также и через управляющий электрод. Максимум Ujt сме щается при этом в сторону шунта и тем сильнее, чем больше
(кривая 2 на рис. 6.10,6). Если при у = у тC//s>C//ap( при /ло> 0), тиристор переходит в открытое состояние.
Согласно принятому допущению о равномерном распределе нии начального избыточного заряда вдоль оси у плотность ды рочного тока / Р2, поступающего в базу р2 через коллекторный пе
реход, приближенно |
постоянна |
вдоль оси у в пределах области |
O ^y^U . Заметное |
отклонение |
от равномерного распределения |
может иметь место только в окрестностях точек у= 0 (при / лс= = 0 ) и у = у т (при / HG> 0), в пределах которых инжекция элект ронов из эмиттера п2+ в базу р2, а следовательно, и дырок из эмит тера pi+ в базу п\ наиболее значительна. Однако при плотностях тока, соответствующих включению тиристора, указанное отклоне
ние не очень существенно, а окрестности |
точек у = 0 и у = у т, в |
||
пределах которых оно имеет место, достаточно малы. |
Поэтому |
||
можно принять, что распределение UIa |
вдоль оси у приближен |
||
но описывается уравнением |
|
|
|
d4J,Jdy'^-JpiPp/W3. |
|
(6.41) |
|
Следует также отметить, что плотность |
дырочного |
тока Jp2, |
|
как и плотность анодного тока, переменна во времени |
(при / > |
||
> / 3, см. рис. 6.5). Поэтому при / л<;>0 |
координата ут также за |
висит от времени. Однако для упрощения задачи примем, что ут не зависит от t.
При оговоренных допущениях для анализа поведения тиристо ра на этапе нарастания анодного напряжения достаточно рассмот
реть только область ym ^ y^ h |
(рис. 6.10,6). Следовательно, по |
ведение тиристора с шириной |
катодного эмиттера /э при /д о > 0 |
приближенно аналогично поведению тиристора с шириной катод
ного эмиттера (U—Ут) при /Лс = 0.
Изменение эффективной ширины катодного эмиттера при воз
действии импульса тока / ло приводит к уменьшению |
удельного |
эквивалентного сопротивления омических утечек этого |
перехода |
13 5
Rjt [2.6]. Изменение |
R,-3 |
влияет, в свою очередь, на плотность |
||
критического |
заряда |
включения тиристора. С |
увеличением тока |
|
IRG удельное |
эквивалентное |
сопротивление /?/, |
уменьшается, а |
|
плотность критического заряда QKp возрастает. |
Время выключе |
ния тиристора при этом уменьшается.
Таким образом, модель, предложенная в [6,22], позволяет при комбинированном выключении тиристора на этапе нарастания анодного напряжения использовать для расчета tq все соотноше
ния, приведенные в § 6.2. Анализ влияния IRG на tq сводится |
при |
||||||||
этом к анализу зависимости RJ3(IRG)- |
|
|
|
|
|
||||
Решив уравнение (6.41) |
при |
граничных |
условиях 27/з= 0 |
при |
|||||
у = 19 и dUiJdy=IsGPp/(W3lG) при у—0, |
где lG— протяженность |
||||||||
тиристора в |
направлении, |
нормальном |
к |
плоскости |
чертежа |
||||
(рис. 6.10,а), |
и использовав |
дополнительные |
условия 27/3 = 27/i* и |
||||||
dUjJdy=0 при у = у т, из решения (6.41) |
можно исключить /р2 и |
||||||||
определить зависимости Rjt и U*3 |
от /цо. |
Тогда |
|
|
|||||
*0/, |
1 Л+ |
2IRGRV» |
1 |
л[ |
i 1 |
*яо*ч. \ |
(6.42) |
||
*/. |
2 1 |
и%1.‘о |
' |
У |
‘ |
UlfUc )' |
|
|
|
где |
|
|
|
|
|
|
|
(6-43) |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
|
ull = |
|
+ (k m 1п(«0,•./«/.). |
(6.44) |
a Uof, в общем случае определяется из решения уравнения (5.9а) работы [2.6] при RJ9= Roj3, но с достаточной точностью может быть рассчитано из выражения
f/Kp _ kT |
in ( |
1 |
Prt |
^ |
(6.45) |
* |
‘" U |
+ |
f e - l |
|
|
Аналогичные выражения можно получить и для случая, когда тиристорная структура имеет не прямоугольную, а цилиндриче скую форму, как, например, на рис. 2.14,а. В этом случае имеем
- |
?Ло |
ln(r°I RO |
l /Vl |
(6.46) |
|
2» Л /.'jr |
|
4 |
? |
/ |
|
где |
1п7f - f r |
j - i |
v |
w |
] (6; .47) |
Й0', = ' й ' [ |
136
*0/э |
4*0/, |
*/, } |
(6.48) |
|
a Uofa в общем случае также определяется из решения уравнения (5.9а) работы [2.6] при RJa= R0h или приближенно из (6.45).
Формулами |
(6.42) и (.6.46) для расчетов tq можно пользовать |
||||
ся при таких значениях /дс, когда обратное |
напряжение на ка |
||||
тодном |
переходе при у= 0 |
(см. рис. 6Л0,а) |
или при г==гв |
(см. |
|
рис. 2.14,г) не превышает пробивного напряжения катодного |
пе |
||||
рехода |
U w if |
Это условие, аналогичное используемому в слу |
|||
чае запираемых тиристоров |
[2.24], можно записать в виде |
|
|||
|
|
ЯоJJRGIST^U(BR)IV |
(6.49) |
где ST— площадь тиристора, равная Ыо в случае структур пря моугольной формы и пг2с в случае структур цилиндрической формы.
Выражение для времени выключения тиристора в комбиниро ванном режиме tqGA можно представить в виде, аналогичном (6.37), а именно
tqGA |
lfl _____трЯй(*о)______ |
(6.50) |
|
|
WIQKP — QmK + m0Qh |
|
|
где mi = QKp/QKp°; Q K P° |
и QKp — плотности |
критического |
заряда |
включения тиристора при IRG—О и /дс> |
0 соответственно. |
Если омические утечки через технологическую шунтировку ка тодного перехода преобладают над другими механизмами, влия
ющими на Q K P° , |
т о |
отношение Q K P / Q K P° приближенно равно отно |
шению RoiJRia, т. |
е. |
1ПУ=s= RojJRu. |
На рис. 6.11 представлены экспериментальные зависимости времени выключения в комбинированном режиме tqCA от /до для трех тиристорных структур различного диаметра D G, полученные в [6.21]. Экспериментальные образцы были изготовлены на крем нии с удельным сопротивлением около 55 Ом-см по технологии быстродействующих тиристоров. На одной кремниевой пластине диаметром 32 мм и толщиной около 370 мкм изготовлялось не сколько структур круглой формы с диаметрами катодных эмит теров от 1 до 10 мм. В центре катодного эмиттера каждой р-п-р-п структуры располагался шунт диаметром А = 0,25 мм. Время жизни дырок в базе п регулировалось диффузией золота и изме рялось разностным методом [6:23] при плотности тока в откры том состоянии 40 А/см2 и температуре 25°С. Оно было равно при мерно 2 мкс. Глубина залегания анодного и коллекторного пере ходов была около 80 мкм, а катодного перехода — около 20 мкм. Толщины, базы П\ и базы рч были равны соответственно 210 и
60м,км.
Импульс обратного тока управляющего электрода приклады
вался к исследуемой структуре в момент перехода анодного тока
137
Рис. |
6.11. |
Экспериментальные |
|
(-------- |
) и |
расчетные ( |
------------- , |
_________) |
зависимости |
времени |
выключения в комбинирован ном режиме от амплитуды им
пульса обратного тока |
управ |
ляющего электрода |
(D ei <3 |
<ДС2<0сз) |
|
через нуль (при £ «£ 0, см. рис. 6.5). Длительность импульса тока I R C несколько превышала значение времени выключения тиристо ра при /д с= 0 . Измерения tqGA проводились при 125 °С и плотно сти тока в открытом состоянии 40 А/см2. Скорость спада тока в открытом состоянии была равна 5 А/мкс. Изменения этой скоро сти в достаточно широком интервале слабо влияли на измеренные значения tqGA. Обратное напряжение, прикладываемое к структу рам в процессе их выключения, было равно 10 В. Амплитуда по вторно прикладываемого импульса анодного напряжения в за крытом состоянии и скорость его нарастания составляли соответ ственно 100 В и 50 В/мкс.
Из экспериментальных зависимостей, представленных на рис. 6.11, видно, что чем меньше диаметр структуры Do, тем мень ше tq при 1RG= 0 и тем сильнее зависимость £9сл(/по). Уменьше ние tq с уменьшением DGобусловлено тем, что при заданном диа метре шунта катодного перехода D\ эффективность технологиче
ской шунтировки возрастает с уменьшением Da (6.47). Более рез |
|||||||
кая зависимость £дсл(/дс) с уменьшением |
DG обусловлена |
боль |
|||||
шей плотностью обратного тока управляющего |
электрода |
при |
|||||
малых DG. Из рисунка видно также (см., |
например, кривую 2), |
||||||
что при значении |
/до, обозначенном |
/до* |
и соответствующем |
вы |
|||
полнению условия |
(i6.49), tqGA практически не |
.уменьшается |
с |
||||
дальнейшим ростом /до. |
|
|
|
|
|
||
Для сравнения с экспериментом были выполнены расчеты по |
|||||||
(6.50) |
с учетом (6.46) — (6.48) и соответствующих формул работы |
||||||
{2.6] |
для определения QKp°,QHaK и |
Q/,. Значение Q2(f0) рассчи |
тывалось по (6.33) этой же работы. При расчетах кроме перечис ленных выше значений параметров тиристора и режима выклю чения было принято, что тпз=0,8 мкс, £ о з«2 0 В/см и ]sjt & « 1 0 -11 А/см2 при 300 К. Полагалось, что времена жизни дырок тР2 в базе П\ и электронов тпз в базе р2 пропорциональны абсо
лютной температуре Т в степени 2,2 [6.25], a Jsft |
пропорцио |
нальна квадрату концентрации собственных носителей. |
|
1 3 8 |
|
Соответствующие расчетные зависимости ^ оа(/во) хорошо совпадали с экспериментальными зависимостями при Z)C ^ 4 MM [на рис. 6.11 в качестве примера пунктиром изображена расчет ная зависимость tqGA(IRe) для структуры диаметром 3 мм]. Од нако при Da> 4 мм, особенно для структур с Da='10 мм, наблю далось заметное расхождение расчетных и экспериментальных кривых: при IRC= 0 расчетные значения tg были существенно вы
ше экспериментальных, а расчетные зависимости ^3са(/я<?) были более резкими, чем экспериментальные.
Было сделано предположение [6.26], что это расхождение расчетных и экспериментальных кривых обусловлено тем, что с ростом DG падает эффективность технологической шунтировки катодного перехода, так как для всех структур Di=0,25 м м = = const, и возрастает влияние на tq неконтролируемых объемных и поверхностных токов утечки катодного перехода. Соответствую щие расчеты, выполненные в предположении, что неконтролируе мые объемные и поверхностные токи утечки катодного перехода являются омическими, привели к хорошему совладению расчет ных и экспериментальных зависимостей / 3с а ( / д с ) и для структур диаметром 10 мм (штрихпунктирная и сплошная кривые на рис. 6.11).
Г л а в а с е д ь м а я
МОДЕЛИРОВАНИЕ ПЕРЕХОДНОГО ПРОЦЕССА ВЫКЛЮЧЕНИЯ ТИРИСТОРОВ, ПРОВОДЯЩИХ В ОБРАТНОМ НАПРАВЛЕНИИ
7.1. АСИММЕТРИЧНЫЕ ТИРИСТОРЫ И ТИРИСТОРЫ-ДИОДЫ
Существует ряд преобразователей на основе СПП, в которых используется встречно-параллельное соединение быстродействую щих тиристоров и быстровосстанавливающихся диодов. При ис пользовании тиристоров в подобных преобразователях от них не требуется высокой блокирующей способности в обратном направ лении. Достаточно, чтобы тиристоры выдерживали в процессе их выключения обратное напряжение, равное сумме падений напря жения на диодах, включенных встречно-параллельно, и на пара зитной индуктивности проводов, соединяющих диоды и тиристо ры. Это напряжение не превышает, как правило, несколько еди ниц или десятков вольт.
Тиристоры, допустимые обратные напряжения которых намно го меньше допустимых напряжений в закрытом состоянии, приня то называть асимметричными.
В закрытом состоянии асимметричные тиристоры выдержива ют такие же напряжения, как и обычные тиристоры, не проводя щие в обратном направлении. Поэтому асимметричные и обычные тиристоры имеют идентичные коллекторные переходы и отлича-
I
1 Э
Рис. 7.1. Распределение легирующих примесей в асимметричном тиристоре (пунктир — то же В обычном тиристоре)
Рис. 7.2. ВАХ асимметричного тиристора (кривая 1) и тири стора-диода (кривая 2)
ются, по существу, только распределением легирующих примесей в окрестности анодного перехода / 1 (рис. 7.1). Наличие л'-слоя ограничивает распространение области объемного заряда коллек
торного перехода в сторону анодного |
перехода |
при |
приложении |
к тиристору напряжения в закрытом |
состоянии. |
Это |
позволяет |
при заданном значении напряжения переключения выбирать тол щину л-базы асимметричных тиристоров существенно меньшей толщины этой базы обычных тиристоров. В то же время суммар ная толщина анодного pi+- и л'-слоя в асимметричных тиристорах не превышает, как правило, толщину анодного p-слоя в обычных тиристорах. Поэтому именно благодаря меньшей толщине л-базы при заданном напряжении переключении асимметричные тиристо ры имеют меньшие времена выключения и, кроме того, при про чих равных условиях несколько меньшие потери при включении и в открытом состоянии. При одинаковых толщинах базовых л-сло- ев и, следовательно, при одинаковом быстродействии асимметрич ные тиристоры могут быть существенно более высоковольтными, чем обычные тиристоры.
Асимметричные тиристоры являются составной частью тири сторов-диодов, которые сочетают в себе характеристики тиристо ра и встречно-параллельно включенного с ним диода. ВАХ асим метричных тиристоров и тиристоров-диодов изображены на рис. 7.2.
Тиристоры-диоды имеют определенные преимущества перед дискретными асимметричными тиристорами и диодами, соединенными встречно-параллельно. К ним относятся удобство монтажа (один прибор вместо двух), отсутствие па разитной индуктивности проводов, соединяющих диод и тиристор, экономия ма териалов (один корпус вместо двух) и т. д. Однако технология изготовления тиристоров-диодов заметно сложнее. Кроме того, для разных областей примене ния требуются тиристоры-диоды с различным соотношением средних токов тири стора и диода. Это обусловливает потребность в большой номенклатуре тиристо-
140