книги / Наноструктуры и наноматериалы. Синтез, свойства и применение
.pdf132 |
Глава 4 |
также использовали анодное окисление [10]. Длина этих нанотрубок может дости гать 10 мкм, а диаметр изменяется от 100 до 200 нм. Очень тонкие ТЮ2-нанотрубки диаметром около 10 нм можно получить обработкой ТЮ2 (структура анатаза или рутила) NaOH и затем НС1 [11]. Помимо УОх- и ТЮ2-нанотрубок известно множе ство других оксидных нанотрубок. Углеродные нанотрубки могут быть использо ваны как темплаты (матрицы) для получения разнообразных нанотрубок на основе Si02, А120 3 [12], М о03, RU0 2 [13] или Zr02 [14]. Хотя обычно считают, что нановискеры и наностержни короче, чем нановолокна и нанонити, точное их определение часто неоднозначно. Кроме того, одномерные структуры диаметром от нескольких нанометров до нескольких сотен микрон в литературе ранее называли вискерами и волокнами, а последнее время в литературе аналогичные объекты с диаметрами, не превышающими нескольких сот нанометров, преимущественно называют нано нитями и наностержнями. При чтении этой главы будет видно, что многие теоре тические и методические основы выращивания одномерных наноструктур базиру ются на ранних работах по выращиванию вискеров и волокон, в которых уделялось меньше внимания нанометровым размерам. В этой главе различные названия для одномерных наноструктур будут использоваться взаимозаменяемо, хотя у нанони тей отношение длины к ширине обычно больше, чем у наностержней. Для синте за и формирования одномерных наноструктур разработано много методов, хотя некоторые из этих методов подробно изучены, а другие привлекли существенно меньшее внимание. Эти методы могут быть сгруппированы в четыре категории:
(1) Самопроизвольный рост:
(а) Испарение (или растворение) - конденсация
(б) Рост по механизму «пар-жидкость-кристалл» (ПЖК) или «раствор-жид- кость-кристалл» (РЖК)
(в) Рекристаллизация под действием напряжения
(2) Матричный (темплатный) синтез:
(а) Электроосаждение и электрофоретическое осаждение
(б) Заполнение коллоидами, расплавами или растворами
(в) Преобразование с помощью химических реакций
(3)Электроформование
(4)Литография.
Самопроизвольный рост и темплатный синтез считаются подходами «снизу вверх», в то время как литография - подходом «сверху вниз». Самопроизволь ный рост обычно приводит к формированию монокристаллических нанонитей или наностержней вдоль преимущественного направления роста кристаллов в зависимости от кристаллической структуры и свойств поверхности материала нанонитей. При использовании темплатного синтеза обычно получают поликри
Одномерные наноструктуры: нанонити и наностержни |
133 |
сталлические или даже аморфные продукты. Все вышеупомянутые методы по лучения одномерных наноструктурированных материалов будут рассмотрены в этой главе для ясности в порядке перечисления. Литография будет рассмотрена только вкратце, учитывая развитость метода. Как и в предыдущей главе, в этой главе будут рассмотрены нанонити, наностержни и нанотрубки, полученные из разных материалов, включая металлы, полупроводники, полимеры и диэлектри ки. Основное внимание в этой главе будет уделено фундаментальным принципам основных методов синтеза. За детальной информацией о конкретных материалах читателям рекомендуется обратиться к всестороннему обзору по синтезу, диагно стике и применению одномерных наноструктур [15]. Углеродные нанотрубки как особое семейство наноматериалов заслуживают особого внимания и будут рас смотрены отдельно в главе 6.
4.2. Самопроизвольный рост
Самопроизвольный рост - это процесс, движущей силой которого является уменьшение энергии Гиббса или химического потенциала. Уменьшение энергии Гиббса обычно происходит в процессе фазового перехода или химической реак ции или снятия напряжения. Для формирования нанонитей или наностержней требуется анизотропный рост, при котором кристалл растет в определенном на правлении быстрее, чем в других направлениях. Если рост кристалла происходит в одном направлении, а в других направлениях рост отсутствует, могут быть по лучены нанонити однородного размера, т. е. имеющие одинаковый диаметр по всей своей длине. В процессе самопроизвольного роста для конкретного мате риала при конкретных условиях дефекты и примеси на поверхностях роста могут определять морфологию конечных продуктов.
4.2.1. Рост врезультате испарения (растворения) - конденсации
Основы процесса рост а в результате испарения (растворения) —конденсации
Процесс испарения-конденсации также называют процессом «пар-кристалл» (ПК), однако обсуждение в этом разделе не будет ограничиваться только процес сом испарения-конденсации. Для получения требуемых материалов используют химические реакции между различными прекурсорами. Конечно, выращивание наностержней из раствора также будет рассмотрено. Движущей силой при синте зе нанонитей и наностержней является уменьшение энергии Гиббса, которое про исходит в результате рекристаллизации или уменьшения пересыщения. Нанонити и наностержни, выращенные методом испарения-конденсации, обычно представ ляют собой монокристаллы с малым количеством дефектов. Образование нано нитей, наностержней или нанотрубок с помощью испарения (или растворения)
134 |
Глава 4 |
- конденсации происходит в результате анизотропного роста. Известно несколько механизмов, приводящих к анизотропному росту, например:
(1)Разные грани кристалла имеют разную скорость роста. Так, для кремния со структурой алмаза скорость роста граней {111} меньше, чем {ПО}.
(2)Наличие дефектов кристаллов в определенных направлениях, например, винтовых дислокаций.
(3)Преимущественное накопление примесей на определенных гранях (отрав ление примесями).
Прежде чем подробно обсуждать получение различных нанонитей методом испарения-конденсации, рассмотрим вкратце основы роста кристаллов. Рост кристаллов можно в целом считать гетерогенной реакцией, типичный процесс роста кристалла включает несколько стадий, как схематично показано на рис. 4.1.
(1)Диффузия компонентов наращиваемого вещества из объема (паровой или жидкой фазы) к поверхности роста. Обычно она протекает достаточно быстро и не является лимитирующей стадией.
(2)Адсорбция и десорбция компонентов наращиваемого вещества на поверх ность роста и с нее, если пересыщение или концентрация компонентов наращи ваемого вещества низка.
(3)Поверхностная диффузия компонентов наращиваемого вещества. В про цессе поверхностной диффузии адсорбированное вещество может встроиться в поверхность роста, осуществляя рост кристалла, или уйти с поверхности.
(4)Рост поверхности в результате необратимого встраивания адсорбирован ного вещества в кристаллическую структуру. При наличии пересыщения или вы-
|
(6) Диффузия |
Элементы наращиваемого |
побочных |
вещества в объеме |
продуктов |
(5) Десорбция
0побочных
0 продуктов
Поверхность твердого тела
Рис. 4.1. Схема, иллюстрирующая шесть стадий роста кристалла, который можно в целом считать гетерогенной реакцией. Типичный рост кристалла протекает в этой последова тельности.
Одномерные наноструктуры: нанонити и наностержни |
135 |
сокой концентрации компонентов наращиваемого вещества эта стадия является лимитирующей и определяет скорость роста.
(5)Если в процессе роста образуются побочные продукты, они должны де сорбироваться с поверхности, чтобы могли адсорбироваться новые компоненты наращиваемого вещества и процесс роста мог продолжаться.
(6)Побочные продукты диффундируют от поверхности, чтобы освободить её для последующего роста.
Вбольшинстве случаев роста кристаллов лимитирующей стадией является либо адсорбция и десорбция компонентов наращиваемого вещества на поверхно сти (стадия 2), либо рост поверхности (стадия 4). Если лимитирующей является стадия 2, то скорость роста определяется скоростью конденсации /(атомов/см2-с), которая зависит от числа компонентов наращиваемого вещества, адсорбирую щихся на поверхности роста, которое пропорционально давлению пара или кон центрации Р компонентов наращиваемого вещества в паре, что описывается урав нением:
J = ааР0(2лткТ)~'12 |
(4.1) |
где а - коэффициент аккомодации, а = {Р - Рп)!Р{] - пересыщение компонентов на ращиваемого вещества в паре, Р0- равновесное давление пара кристалла при тем пературе Т,тп- атомная масса наращиваемого вещества, к - константа Больцмана. а - это встраивающаяся в поверхность роста доля наращиваемого вещества, кото рая является специфическим свойством поверхности. Поверхность с высоким ко эффициентом аккомодации будет иметь более высокую скорость роста по сравне нию с поверхностью с малым а. Разная величина коэффициентов аккомодации для разных граней будет приводить к анизотропному росту. Когда концентрация ком понентов наращиваемого вещества очень мала, лимитирующей стадией является адсорбция. Для данной системы скорость роста линейно увеличивается с увели чением концентрации компонентов наращиваемого вещества. Дальнейшее увели чение концентрации компонентов наращиваемого вещества приводит к переходу от процесса, лимитируемого адсорбцией, к процессу, лимитируемому ростом по верхности. Когда рост поверхности становится лимитирующей стадией, процесс роста перестает зависеть от концентрации компонентов наращиваемого вещества, как схематично представлено на рис. 4.2. Высокая концентрация или высокое дав ление пара компонентов наращиваемого вещества в паровой фазе будет приводить к увеличению вероятности образования таких дефектов, как посторонние включе ния или дефекты упаковки. Кроме того, высокая концентрация может привести к вторичной нуклеации на поверхности роста или даже к гомогенной нуклеации, что приведет к прекращению эпитаксиального роста или роста монокристалла.
Пребывание компонентов наращиваемого вещества на поверхности роста мо жет быть описано в терминах времени пребывания до возвращения в паровую фазу и/или диффузионной длины. Время пребывания г компонентов наращивае мого вещества на поверхности описывается формулой
136 |
Глава 4 |
Концентрация элементов наращиваемого вещества
Рис. 4.2. Зависимость скорости роста от концентрации реагента. При низкой концентра ции рост лимитируется диффузией, и поэтому скорость роста линейно увеличивается с увеличением концентрации реагента. При высокой концентрации лимитирующей стадией является реакция на поверхности, и скорость роста перестает зависеть от концентрации реагента.
т, = -е х р |
( ЕА |
(4.2) |
^ des |
||
v |
к кТ |
|
где v - частота колебаний адатома, т.е. адсорбированного атома, на поверхности (обычно 1012 с-1), a Edes - энергия десорбции, необходимая для его возвращения в паровую фазу. Находясь на поверхности роста, наращиваемое вещество будет диффундировать по поверхности с коэффициентом поверхностной диффузии D:
1 |
( -Е |
\ |
|
= - a 0vexp |
C 'S |
(4.3) |
|
КкТ |
|||
|
/ |
где Es- энергия активации поверхностной диффузии, а0- размер диффундирую щего компонента. Средняя диффузионная длина ^компонента наращиваемого ве щества от места его адсорбции на поверхности
X = J2DSTS — OQexp |
(4.4) |
Очевидно, если средняя диффузионная длина значительно больше расстояния между двумя участками роста, такими как уступы или ступени, все адсорбирован ные компоненты наращиваемого вещества встроятся в кристаллическую структу ру и коэффициент аккомодации будет равен единице. Если средняя диффузионная длина значительно меньше расстояния между двумя участками роста, все адато
Одномерные наноструктуры: нанонити и наностержни |
137 |
мы возвратятся в паровую фазу, и коэффициент аккомодации будет равен нулю. Коэффициент аккомодации зависит от энергии десорбции, энергии активации по верхностной диффузии и плотности расположения участков роста. Если стадия 2 протекает достаточно быстро, стадия 4, т.е. рост поверхности, становится ли митирующей стадией процесса. В главе 2 мы обсудили тот факт, что различные грани кристалла имеют разную поверхностную энергию. Разные грани кристалла имеют разную поверхностную плотность атомов, а атомы на разных гранях име ют разное количество ненасыщенных связей (также называемых свободными или оборванными связями), что приводит к разным величинам поверхностной энер гии. Такое различие величин поверхностной энергии и количества оборванных связей приводит к различным механизмам и скоростям роста. Согласно теории цепей периодических связей (ЦПС), предложенной в работе [16], все грани кри сталла можно разделить на три группы по количеству оборванных цепей перио дических связей на данной грани: плоская поверхность, ступенчатая поверхность и поверхность с уступами. Количество оборванных периодических цепей связей можно в упрощенном виде представить как количество оборванных связей, при ходящихся на один атом на данной грани. Рассмотрим сначала механизмы роста на плоской поверхности.
Классическую теорию ступенчатого роста для плоской поверхности, известную как теория КСФ, разработали Коссель, Странский и Фольмер [17]. Они полагали, что поверхность кристалла на атомном масштабе не гладкая, не плоская и не одно родная, и такие неоднородности ответственны за рост кристалла. Для иллюстрации механизма ступенчатого роста рассмотрим поверхность {100} простого кубическо го кристалла, а каждый атом представим в виде кубика с координационным чис лом шесть (шесть химических связей), как схематично представлено на рис. 4.3. Когда атом адсорбируется на поверхности, он диффундирует по поверхности в случайном направлении. Если он диффундирует к энергетически благоприятно-
Рис. 4.3. Иллюстрация механизма ступенчатого роста, представляющая в качестве при мера поверхность {100} простого кубического кристалла, на которой отдельные атомы изображены в виде кубиков с координационным числом шесть (шесть химических связей) в объемном кристалле.
138 |
Глава 4 |
му участку, он необратимо встраивается в кристаллическую структуру, приводя к росту поверхности. Однако он может вернуться с поверхности обратно в паро вую фазу. На плоской поверхности адсорбированный атом может найти разные участки с различными значениями энергии. Атом, адсорбированный на плоском участке, образует одну химическую связь с поверхностью. Такой атом, который называют адатомом, находится в термодинамически невыгодном состоянии. Если атом диффундирует к ступени, он образует две химические связи и становится устойчивым. Если атом встраивается в уступ, он образует три химические связи. Атом, который встраивается в излом, образует четыре химические связи. Ступе ни, уступы и изломы считаются участками роста; встраивание атома в эти участки необратимо и приводит к росту поверхности. Рост плоской поверхности проис ходит в результате продвижения ступеней. Для конкретных граней кристалла при конкретных условиях скорость роста будет зависеть от поверхностной плотности ступенчатых участков. Неправильное координирование приведет к увеличению поверхностной плотности ступенчатых участков и, следовательно, к более высо кой скорости роста. Увеличенная поверхностная плотность ступенчатых участков будет способствовать необратимому встраиванию адатомов за счет уменьшения расстояния, которое адатом проходит в результате диффузии по поверхности от места адсорбции до участка роста, прежде чем вернется с поверхности обратно в паровую фазу.
Очевидным ограничением такого механизма роста является регенерация участков роста после израсходования всех доступных ступеней. Бертон, Кабрера и Франк [18] предположили, что винтовая дислокация служит постоянным источни ком образования новых участков роста, чтобы ступенчатый рост мог продолжаться (рис. 4.4). Рост кристалла происходит по спирали, и такой механизм роста теперь известен как теория БКФ. Наличие винтовой дислокации будет не только обеспе чивать постоянное продвижение поверхности роста, но и увеличивать скорость
Рис. 4.4. Согласно теории БКФ, рост кристалла происходит по спирали, при этом винтовая дислокация служит постоянным источником образования участков роста, чтобы ступенча тый рост мог продолжаться.
Одномерные наноструктуры: нанонити и наностержни |
139 |
роста. Скорость роста данной грани кристалла при данных экспериментальных условиях будет возрастать с увеличением поверхностной плотности винтовых дислокаций, параллельных направлению роста. Известно также, что разные грани могут иметь существенно разную способность содержать дислокации. Наличие дислокаций на определенных гранях может приводить к анизотропному росту, вызывающему образование нанонитей или наностержней.
Теория ЦПС предлагает другое объяснение разных скоростей роста на разных гранях [19,20]. Рассмотрим простой кубический кристалл в качестве примера для иллюстрации теории ЦПС, как показано на рис. 4.5 [19]. Согласно теории ЦПС, грани {100} - это плоские поверхности (F-грани), имеющие одну цепь связей, грани {110} - ступенчатые поверхности (5-грани), имеющие две цепи связей, и грани {111} - поверхности с уступами (АГ-грани), имеющие три цепи связей. Для граней {110} каждый участок поверхности представляет собой ступень, и поэто му каждый попавший на эту поверхность атом будет встраиваться в поверхность. Для граней {111} каждый участок поверхности представляет собой уступ, и каж дый адсорбированный атом будет встраиваться в поверхность. Для граней {110} и {111} такой механизм называют механизмом случайного присоединения, при котором адсорбированные атомы не возвращаются обратно в паровую фазу. Оче видно, что грани {110} и {111} имеют более высокую скорость роста, чем грани {100} в простом кубическом кристалле. Вообще, 5-грани и АГ-грани имеют более высокую скорость роста, чем F -грани. Для 5- и АГ-граней процесс роста всегда
Рис. 4.5. Иллюстрация теории ЦПС. В простом кубическом кристалле грани {100} - пло ские поверхности (F-грани), имеющие одну цепь связей, грани {110} - ступенчатые по верхности (5-грани), имеющие две цепи связей, и грани {111} - поверхности с уступами (/С-грани), имеющие три цепи связей [Р. Hartman and W.G. Perdok, Acta Crystal. 8,49 (1955)].
140 Глава 4
лимитирован адсорбцией, поскольку коэффициенты аккомодации для этих типов поверхности равны единице, то есть все адсорбированные атомы встраиваются в поверхность роста. Для F -граней коэффициент аккомодации может изменяться от нуля (рост отсутствует) до единицы (рост лимитирован адсорбцией) в зависимо сти от доступности уступов и ступеней.
Вышеизложенные теории помогают лучше понять, почему одни грани кри сталла растут гораздо быстрее, чем другие. Однако грани с высокой скоростью роста, т.е. поверхности с высокой поверхностной энергией, стремятся исчезнуть. В термодинамически равновесном кристалле будут сохраняться только поверхно сти с самой низкой поверхностной энергией, что определяется диаграммой Вуль фа [21, 22]. Следовательно, образование наностержней или нанонитей, полностью основанное на разных скоростях роста различных граней, ограничено материала ми с особой кристаллической структурой. В общем случае для продолжающегося роста вдоль оси наностержней или нанонитей необходимы другие механизмы, та кие как рост, вызываемый дефектами, или рост, ингибируемый примесями.
Отметим, что для анизотропного роста необходимо низкое пересыщение. В идеале концентрация должна быть выше, чем равновесная концентрация на по верхности роста, но равна или меньше равновесной на других не растущих по верхностях. Для анизотропного роста необходимо низкое пересыщение, тогда как при среднем пересыщении происходит рост всех поверхностей, а высокое пере сыщение вызывает вторичную или гомогенную нуклеацию, приводящую к обра зованию поликристаллов или порошков.
Рост врезультате испарения-конденсации
В работе [23] было впервые предложено объяснение роста вискеров (или на нонитей, диаметром ~200 нм и длиной 1-2 мм) ртути посредством аксиального анизотропного роста, вызываемого винтовой дислокацией. Вискеры, или нано нити, ртути были выращены простым методом испарения-конденсации при тем пературе конденсации -50°С в вакууме, скорость аксиального роста составляла приблизительно 1,5 мкм/с при пересыщении, равном 100 (определяется как от ношение давления к равновесному давлению). Было обнаружено, что в процессе аксиального роста радиус вискеров, или нанонитей, оставался постоянным, что означает, что латеральный рост происходил в пренебрежимо малой степени или отсутствовал. В последующей работе [24] было также показано, что тонкие ви скеры из других материалов, включая цинк, кадмий, серебро и сульфид кадмия, могут быть выращены с помощью метода испарения-конденсации. Эксперимен тальные условия варьировались в зависимости от конкретного материала. Темпе ратура роста варьировалась от 250°С для кадмия до 850°С для серебряных виске ров, а пересыщение от ~2 для сульфида кадмия до ~20 для кадмия.
Впоследствии много исследований было посвящено тому, чтобы подтвердить необходимость наличия аксиальных винтовых дислокаций для роста нанонитей. Однако в большинстве случаев различными методами исследования, включая электронную микроскопию и травление, наличие аксиальных винтовых дисло
Одномерные наноструктуры: нанонити и наностержни |
141 |
каций подтвердить не удалось [25]. Было сделано предположение, что причиной анизотропного роста являются микродвойники и дефекты упаковки, которые на блюдаются во многих нанонитях и наностержнях, выращенных методом испаре ния-конденсации. Однако многие другие исследователи не обнаружили никаких аксиальных дефектов в выращенных нанонитях и наностержнях. Очевидно, что рост наностержней или нанонитей не обязательно управляется наличием микро двойников, хотя образование двойников играет очень важную роль в определении конечной морфологии кристалла [26]. Такой анизотропный рост также невозмож но объяснить анизотропными кристаллическими структурами. Очевидно, для по нимания механизма роста нанонитей и наностержней методом испарения-кон денсации необходимы дальнейшие исследования.
Другая проблема заключается в том, что наблюдаемая скорость роста нанони тей превышает скорость конденсации, рассчитанную по уравнению (4.1), с коэф фициентом аккомодации, равным единице. Это означает, что нанонити растут бы стрее, чем компоненты наращиваемого вещества поступают на поверхность роста. Для объяснения высокой скорости роста вискеров или нанонитей была предложена дислокационно-диффузионная теория [27]. В этой теории быстрый рост объясня ется следующим образом: компоненты наращиваемого вещества поступают на по верхность роста двумя способами: при непосредственном осаждении из паровой фазы и за счет миграции адсорбированных компонентов наращиваемого вещества по боковым граням к растущему кончику нити. Однако миграция адатома через край с боковой грани на поверхность роста на кончике маловероятна, поскольку край представляет собой энергетический барьер для такой миграции [28-30].
В работе [31] сообщалось о получении монокристаллических нанолент из раз личных полупроводниковых оксидов с помощью простого испарения имеющихся в продаже оксидов металлов при высокой температуре под давлением 300 Торр и конденсации на подложке из оксида алюминия, помещенной в ту же печь, при относительно более низких температурах. Использовались оксид цинка (ZnO) с гексагональной кристаллической структурой вюртцита, оксид олова (Sn02) со структурой рутила, оксид индия (1п2Оэ) с кристаллической структурой оксидов редкоземельных элементов С-типа, и оксид кадмия (СсЮ) с кубической структу рой NaCl. Мы рассмотрим выращивание нанолент ZnO для иллюстрации полу ченных в этой работе результатов, поскольку аналогичные явления наблюдались для всех четырех оксидов. На рис. 4.6 представлены изображения нанолент ZnO, полученные с помощью СЭМ и ПЭМ [31].
Типичная толщина нанолент ZnO лежала в диапазоне от 10 до 30 нм, а от ношение ширины к толщине - от ~5 до 10. Было обнаружено два направления роста: <0001> и <0110>. По всей длине нанолент не было обнаружено винтовых дислокаций, за исключением единственного дефекта упаковки, параллельного оси роста в нанолентах, выращенных в направлении <0110>. Поверхности этих нанолент чистые, атомарно-гладкие и не содержат включений аморфной фазы. Дальнейший анализ с помощью СЭМ показал также отсутствие аморфных гло бул на конце нанолент. Эти данные означают, что рост нанолент происходит не