- •Глава 1. Отбор и подготовка пробы к анализу
- •1.1. Отбор пробы
- •1.2. Отбор пробы газов
- •1.3. Отбор проб жидкостей
- •1.4. Отбор пробы твердых веществ
- •1.5. Способ отбора
- •1.6. Потери при пробоотборе и хранение пробы
- •1.7. Подготовка пробы к анализу
- •Глава 2. Статистическая обработка результатов
- •2.1. Погрешности химического анализа. Обработка результатов измерений
- •2.2. Систематическая ошибка
- •2.3. Оценка точности и правильности измерений при малом числе определений
- •2.4. Доверительный интервал и доверительная вероятность (надежность)
- •2.5. Аналитический сигнал. Измерение
- •Глава 3. Спектральные методы исследования веществ
- •3.1. Абсорбционная спектроскопия
- •3.1.1. Фотометрический анализ
- •3.1.1.1. Выбор длины света и светофильтра в фотометрическом анализе
- •3.1.1.2. Основные приемы фотометрического анализа
- •3.1.1.3. Анализ смеси окрашенных веществ
- •3.1.1.4. Аппаратура, используемая в анализе
- •3.1.1.5. Нефелометрия и турбидиметрия
- •3.1.2. Атомно-абсорбционная спектроскопия
- •3.1.2.1. Основы метода
- •3.1.2.2. Аппаратура, используемая в анализе
- •3.2. Эмиссионный спектральный анализ
- •3.2.1. Происхождение эмиссионных спектров
- •3.2.2. Источник возбуждения
- •3.2.3. Качественный анализ
- •3.2.4. Количественный анализ
- •3.2.5. Схема проведения аэса
- •3.2.6. Аппаратура, используемая в анализе
- •3.2.6.1. Принцип работы универсального стилоскопа
- •3.2.6.2. Принцип работы спектрографа
- •3.2.6.3. Принцип работы микрофотометра
- •3.3. Фотометрия пламени
- •3.3.1. Чувствительность анализа
- •3.3.2. Количественное определение элементов
- •3.3.3. Измерение интенсивности излучения
- •3.3.4. Методы определения концентрации растворов в фотометрии пламени
- •3.4. Методы колебательной спектроскопии. Ик-спектроскопия и спектроскопия комбинационного рассеяния
- •3.4.1. Основы методов
- •3.4.2. Спектры ик и комбинационного рассеяния (кр)
- •3.4.3. Аппаратура, используемая в анализе
- •3.5. Люминесцентный анализ
- •3.5.1. Классификация и величины, характеризующие люминесцентное излучение
- •3.5.2. Основы метода
- •3.5.3. Аппаратура, используемая в анализе
- •3.6. Рентгеновская спектроскопия
- •3.6.1. Основные методы
- •3.6.1.1. Взаимодействие рентгеновского излучения с веществом
- •3.6.1.2. Рентгеновский спектр
- •3.6.2. Рентгено-эмиссионный анализ
- •3.6.2.1. Качественный анализ
- •3.6.2.2. Количественный анализ
- •3.6.2.3. Аппаратура
- •3.6.3. Рентгенофлуоресцентный анализ
- •3.6.3.1. Основные виды рентгенофлуоресцентного анализа
- •3.6.3.2. Аппаратура метода
- •3.6.4. Рентгено-абсорбционный анализ
- •3.6.5.1. Основы метода
- •3.6.5.2. Аппаратура
- •3.7. Радиоспектроскопические методы
- •3.7.1. Основы метода
- •3.7.2. Электронный парамагнитный резонанс
- •3.7.3. Ядерно-магнитный резонанс
- •3.7.3.1. Основы метода
- •3.7.3.2. Аппаратура
- •3.7.4. Ядерный квадрупольный резонанс
- •3.7.5. Другие методы радиоспектроскопии
- •3.8. Ядерная спектроскопия
- •3.8.4. Нейтронная спектроскопия
- •3.9. Лазерная спектроскопия
- •3.10. Электронная спектроскопия
- •3.10.1. Фотоэлектронная спектроскопия
- •3.10.2. Спектроскопия характеристических потерь энергии электронов
- •3.11. Вакуумная спектроскопия
- •3.12. Ультрафиолетовая спектроскопия
- •Глава 4. Масс-спектрометрический метод анализа
- •4.1. Принцип действия масс-спектрометра
- •4.2. Виды масс-анализаторов
- •4.3. Элементный анализ
- •4.4. Интерпретация масс-спектров
- •Глава 5. Хроматографические методы
- •5.1. Классификация хроматографических методов
- •5.2. Хроматографические параметры
- •5.3. Теория хроматографического разделения
- •5.4. Теория теоретических тарелок
- •5.5. Кинетическая теория хроматографии
- •5.6. Аппаратура
- •5.7. Качественный анализ
- •5.8. Количественный анализ
- •5.9. Газовая хроматография
- •5.9.1. Газотвердофазная хроматография
- •5.9.2. Газожидкостная хроматография
- •5.10. Жидкостная хроматография
- •Глава 6. Электрохимические методы
- •6.1. Основные понятия электрохимии
- •6.1.1. Электрохимическая ячейка и ее электрический эквивалент
- •6.1.2. Индикаторный электрод и электрод сравнения
- •6.1.3. Гальванический элемент
- •6.1.4. Электрохимические системы
- •6.1.4.1. Равновесные электрохимические системы
- •6.1.4.2. Неравновесные электрохимические системы
- •6.2. Потенциометрия
- •6.2.1. Прямая потенциометрия (ионометрия)
- •6.2.2. Потенциометрическое титрование
- •6.2.3. Аппаратура
- •6.3. Кулонометрия
- •6.3.1. Прямая кулонометрия
- •6.3.2. Кулонометрическое титрование
- •6.4. Вольтамперометрия
- •6.4.1. Амперометрическое титрование
- •6.4.2. Титрование с двумя индикаторными электродами
- •6.5. Кондуктометрический метод анализа
- •Глава 7. Методы термического анализа
- •7.1. Термогравиметрия и дтг
- •7.2. Метод дифференциального термического анализа
- •7.3. Дифференциальная сканирующая калориметрия
- •7.4. Дериватография
- •7.5. Дилатометрия и другие термические методы анализа
- •Глава 8. Дифракционные методы анализа
- •8.1. Основы теории дифракции
- •8.2. Методы дифракционного анализа
- •Глава 9. Микроскопические методы анализа
- •9.1. Световая микроскопия
- •9.2. Электронная микроскопия
- •9.2.1. Растровая электронная микроскопия
- •9.2.1.1. Аппаратура метода рэм
- •9.2.1.2. Использование вторичных и отраженных электронов в рэм
- •9.2.1.3. Типы контраста в растровой электронной микроскопии
- •9.2.1.4. Выбор условий работы рэм и подготовка образцов
- •9.2.1.5. Объекты исследования и их подготовка
- •9.2.2. Просвечивающая электронная микроскопия
- •9.2.2.1. Общая характеристика пэм
- •9.2.2.2. Аппаратура метода
- •9.2.2.3. Разновидности метода пэм
- •9.3. Сканирующие зондовые методы исследования
- •9.3.1. Сканирующая туннельная микроскопия
- •9.3.2. Атомно-силовая микроскопия
- •9.3.3. Магнитосиловая зондовая микроскопия
- •9.3.4. Сканирующая микроскопия ближней оптической зоны
- •Глава 3. Спектральные методы исследования веществ .................................................................................................... 25
- •Глава 4. Масс-спектрометрический метод анализа ....................................................................................................................... 152
- •Глава 6. Электрохимические методы .............................. 193 6.1. Основные понятия электрохимии .............................................. 194
3.1.1.1. Выбор длины света и светофильтра в фотометрическом анализе
1. Выбирают такую спектральную область (или длину волны), в ко- торой достигается наибольшая чувствительность и точность количе- ственных определений (рис. 3.4). Она должна отвечать требованиям:
a) высокая чувствительность элемента к выбранной длине волны; b) хорошая воспроизводимость при небольших отклонениях
длины волны поглощаемого света; c) соблюдение основного закона светопоглощения.
Рис. 3.4. Точность фотометрического определения при различных длинах
волн
Монохроматический свет выделяют при помощи монохроматоров. Чувствительность методов. При определении нужна объективная
оценка наименьшего количества вещества, которые можно определить:
maxmax
min min
D с
l . (3.7)
Если принять D = 0,001, l = 1 см, εmax = 100000, то 8
5
3
min 101
101 101
с моль/л.
34
Если толщину слоя увеличить до l = 10, то чувствительность повы- сится в 10 раз, т. е.
9 min
101с моль/л. На практике Dmin ≈ 0,01, а εmax = 50000 и
7 min
101с моль/л (при l = 1 см).
Чтобы рассчитать наименьшее количество определяемого вещества m, запишем
nVA 10m
с 3
, (3.8)
где n – число атомов определяемого элемента; V – конечный объем рас- твора; A – атомный вес элемента.
nVA 10m
D 3
l , (3.9)
где S V l
– сечение кюветы
3 10nA
DS m , (3.10)
где D – минимальное допустимое значение оптической плотности.
3.1.1.2. Основные приемы фотометрического анализа
Оптическую плотность, концентрацию, толщину слоя и т. д. анали- зируемого и стандартных растворов будем обозначать с индексами (x) и (СТ) соответственно.
Метод сравнения. Измеряют оптические плотности Dх и Dст окра- шенных растворов при одной толщине слоя (lx=lст). Применяя основной закон, рассчитывают концентрацию Cx:
l xx
CD и l СТСТ
CD → СТ
x СТx
D D
CC . (3.11)
Ограничением метода является обязательное подчинение анализи- руемой системы закону Бугера-Ламберта-Бера, по крайней мере, в обла- сти исследуемых концентраций.
Метод градуировочного графика. Измеряют оптические плотности серии стандартных растворов с известной концентрацией. Затем строят калибровочный график и определяют концентрацию Сх.
Применение градуировочных графиков является наиболее распро- странѐнным и точным методом фотометрических измерений. Основные ограничения метода связаны с трудностями приготовления эталонных
35
растворов и учѐтом влияния так называемых третьих компонентов, ко- торые находятся в пробе, сами не определяются, но на результат влия- ют.
Метод добавок. Этот метод применяют при анализе растворов сложного состава, так как он позволяет автоматически учесть влияние «третьих» компонентов. Сначала определяют оптическую плотность анализируемого раствора, содержащего определяемый компонент неиз- вестной концентрации, а затем в анализируемый раствор добавляют из- вестное количество определяемого компонента и вновь измеряют опти- ческую плотность Dx+cт. Отсюда находим концентрацию анализируемо- го раствора.
xx CD l ;
аxаx CCD l ;
xax
x аx
DD D
СC . (3.12)
Концентрацию анализируемого вещества в методе добавок можно найти также по графику в координатах
СТаx CfD . Если откладывать
аx D как функцию Сст , то получится прямая, экстраполяция которой до пересечения с осью абсцисс даст отрезок, равный Сx.
Дифференциальный метод. Сущность в том, что Dх и DСТ опреде- ляют не по отношению к чистому растворителю, а к раствору с концен- трацией Cо, близкой к концентрации исследуемого раствора:
x0х DFСС , (3.13)
где F – фактор:
CTCT
0CT
D C
D CC
F , (3.14)
где x
D и CT
D – относительные оптические плотности. Дифференциальный метод применяют для повышения точности
анализа при определении больших количеств веществ, а также для устранения мешающего влияния посторонних компонентов и исключе- ния поглощения реактива. Этот метод можно использовать и в тех слу- чаях, когда из-за большой концентрации растворенного вещества нару- шается основной закон светопоглощения, а также, если значения опти- ческих плотностей выходят за пределы шкалы прибора, а разбавление раствора нежелательно.
Дифференциальный метод имеет несколько вариантов: когда C0 < Cx и C0 > Cx, двустороннее дифференцирование и дифференциро-
36
ванный метод добавок. Этот метод используется для определения ос- новных компонентов в растворах солей, сплавов и других объектах.