- •Глава 1. Отбор и подготовка пробы к анализу
- •1.1. Отбор пробы
- •1.2. Отбор пробы газов
- •1.3. Отбор проб жидкостей
- •1.4. Отбор пробы твердых веществ
- •1.5. Способ отбора
- •1.6. Потери при пробоотборе и хранение пробы
- •1.7. Подготовка пробы к анализу
- •Глава 2. Статистическая обработка результатов
- •2.1. Погрешности химического анализа. Обработка результатов измерений
- •2.2. Систематическая ошибка
- •2.3. Оценка точности и правильности измерений при малом числе определений
- •2.4. Доверительный интервал и доверительная вероятность (надежность)
- •2.5. Аналитический сигнал. Измерение
- •Глава 3. Спектральные методы исследования веществ
- •3.1. Абсорбционная спектроскопия
- •3.1.1. Фотометрический анализ
- •3.1.1.1. Выбор длины света и светофильтра в фотометрическом анализе
- •3.1.1.2. Основные приемы фотометрического анализа
- •3.1.1.3. Анализ смеси окрашенных веществ
- •3.1.1.4. Аппаратура, используемая в анализе
- •3.1.1.5. Нефелометрия и турбидиметрия
- •3.1.2. Атомно-абсорбционная спектроскопия
- •3.1.2.1. Основы метода
- •3.1.2.2. Аппаратура, используемая в анализе
- •3.2. Эмиссионный спектральный анализ
- •3.2.1. Происхождение эмиссионных спектров
- •3.2.2. Источник возбуждения
- •3.2.3. Качественный анализ
- •3.2.4. Количественный анализ
- •3.2.5. Схема проведения аэса
- •3.2.6. Аппаратура, используемая в анализе
- •3.2.6.1. Принцип работы универсального стилоскопа
- •3.2.6.2. Принцип работы спектрографа
- •3.2.6.3. Принцип работы микрофотометра
- •3.3. Фотометрия пламени
- •3.3.1. Чувствительность анализа
- •3.3.2. Количественное определение элементов
- •3.3.3. Измерение интенсивности излучения
- •3.3.4. Методы определения концентрации растворов в фотометрии пламени
- •3.4. Методы колебательной спектроскопии. Ик-спектроскопия и спектроскопия комбинационного рассеяния
- •3.4.1. Основы методов
- •3.4.2. Спектры ик и комбинационного рассеяния (кр)
- •3.4.3. Аппаратура, используемая в анализе
- •3.5. Люминесцентный анализ
- •3.5.1. Классификация и величины, характеризующие люминесцентное излучение
- •3.5.2. Основы метода
- •3.5.3. Аппаратура, используемая в анализе
- •3.6. Рентгеновская спектроскопия
- •3.6.1. Основные методы
- •3.6.1.1. Взаимодействие рентгеновского излучения с веществом
- •3.6.1.2. Рентгеновский спектр
- •3.6.2. Рентгено-эмиссионный анализ
- •3.6.2.1. Качественный анализ
- •3.6.2.2. Количественный анализ
- •3.6.2.3. Аппаратура
- •3.6.3. Рентгенофлуоресцентный анализ
- •3.6.3.1. Основные виды рентгенофлуоресцентного анализа
- •3.6.3.2. Аппаратура метода
- •3.6.4. Рентгено-абсорбционный анализ
- •3.6.5.1. Основы метода
- •3.6.5.2. Аппаратура
- •3.7. Радиоспектроскопические методы
- •3.7.1. Основы метода
- •3.7.2. Электронный парамагнитный резонанс
- •3.7.3. Ядерно-магнитный резонанс
- •3.7.3.1. Основы метода
- •3.7.3.2. Аппаратура
- •3.7.4. Ядерный квадрупольный резонанс
- •3.7.5. Другие методы радиоспектроскопии
- •3.8. Ядерная спектроскопия
- •3.8.4. Нейтронная спектроскопия
- •3.9. Лазерная спектроскопия
- •3.10. Электронная спектроскопия
- •3.10.1. Фотоэлектронная спектроскопия
- •3.10.2. Спектроскопия характеристических потерь энергии электронов
- •3.11. Вакуумная спектроскопия
- •3.12. Ультрафиолетовая спектроскопия
- •Глава 4. Масс-спектрометрический метод анализа
- •4.1. Принцип действия масс-спектрометра
- •4.2. Виды масс-анализаторов
- •4.3. Элементный анализ
- •4.4. Интерпретация масс-спектров
- •Глава 5. Хроматографические методы
- •5.1. Классификация хроматографических методов
- •5.2. Хроматографические параметры
- •5.3. Теория хроматографического разделения
- •5.4. Теория теоретических тарелок
- •5.5. Кинетическая теория хроматографии
- •5.6. Аппаратура
- •5.7. Качественный анализ
- •5.8. Количественный анализ
- •5.9. Газовая хроматография
- •5.9.1. Газотвердофазная хроматография
- •5.9.2. Газожидкостная хроматография
- •5.10. Жидкостная хроматография
- •Глава 6. Электрохимические методы
- •6.1. Основные понятия электрохимии
- •6.1.1. Электрохимическая ячейка и ее электрический эквивалент
- •6.1.2. Индикаторный электрод и электрод сравнения
- •6.1.3. Гальванический элемент
- •6.1.4. Электрохимические системы
- •6.1.4.1. Равновесные электрохимические системы
- •6.1.4.2. Неравновесные электрохимические системы
- •6.2. Потенциометрия
- •6.2.1. Прямая потенциометрия (ионометрия)
- •6.2.2. Потенциометрическое титрование
- •6.2.3. Аппаратура
- •6.3. Кулонометрия
- •6.3.1. Прямая кулонометрия
- •6.3.2. Кулонометрическое титрование
- •6.4. Вольтамперометрия
- •6.4.1. Амперометрическое титрование
- •6.4.2. Титрование с двумя индикаторными электродами
- •6.5. Кондуктометрический метод анализа
- •Глава 7. Методы термического анализа
- •7.1. Термогравиметрия и дтг
- •7.2. Метод дифференциального термического анализа
- •7.3. Дифференциальная сканирующая калориметрия
- •7.4. Дериватография
- •7.5. Дилатометрия и другие термические методы анализа
- •Глава 8. Дифракционные методы анализа
- •8.1. Основы теории дифракции
- •8.2. Методы дифракционного анализа
- •Глава 9. Микроскопические методы анализа
- •9.1. Световая микроскопия
- •9.2. Электронная микроскопия
- •9.2.1. Растровая электронная микроскопия
- •9.2.1.1. Аппаратура метода рэм
- •9.2.1.2. Использование вторичных и отраженных электронов в рэм
- •9.2.1.3. Типы контраста в растровой электронной микроскопии
- •9.2.1.4. Выбор условий работы рэм и подготовка образцов
- •9.2.1.5. Объекты исследования и их подготовка
- •9.2.2. Просвечивающая электронная микроскопия
- •9.2.2.1. Общая характеристика пэм
- •9.2.2.2. Аппаратура метода
- •9.2.2.3. Разновидности метода пэм
- •9.3. Сканирующие зондовые методы исследования
- •9.3.1. Сканирующая туннельная микроскопия
- •9.3.2. Атомно-силовая микроскопия
- •9.3.3. Магнитосиловая зондовая микроскопия
- •9.3.4. Сканирующая микроскопия ближней оптической зоны
- •Глава 3. Спектральные методы исследования веществ .................................................................................................... 25
- •Глава 4. Масс-спектрометрический метод анализа ....................................................................................................................... 152
- •Глава 6. Электрохимические методы .............................. 193 6.1. Основные понятия электрохимии .............................................. 194
Глава 4. Масс-спектрометрический метод анализа
Масс-спектрометрический метод анализа основан на ионизации атомов и молекул изучающего вещества и последующим разделении образующихся ионов в пространстве и времени. Образовавшиеся в ре- зультате ионизации ионы формируются в электростатическом поле в пучок. Этот пучок разделяется каким-либо способом на отдельные лучи, ионы в которых различаются по величине их массовых чисел (отноше- ния массы (m) к заряду иона (z) – m/z). Относительные количества ионов в этих лучах регистрируются. Одно из преимуществ метода заключается в том, что для анализа достаточно очень малых количеств вещества, а основной недостаток – метод является разрушающим (исследуется не само вещество, а продукты его превращения). Структура вещества или состав пробы восстанавливаются по результатам этих превращений, что сходно со схемами обычного химического анализа.
Метод масс-спектрометрии удобен для оценки чистоты образца, определения молекулярной массы, элементного состава и получения сведений об основных особенностях структуры молекулы данного ве- щества (для анализа достаточно 10
-6 –10
-12 г вещества, для детектирова-
ния известного соединения – 10 -12
–10 -14
г). Предел абсолютной чувстви- тельности масс-спектрометрии достигает 10
5 атомов. Ограничения ме-
тода заключаются в необходимости обязательного испарения хотя бы части пробы (если проба не газообразная) в вакууме с последующей или одновременной ее ионизацией.
Спектр применения масс-спектрометрии широк. Без масс- спектрометрии немыслимо существование ядерной энергетики, с еѐ по- мощью определяется степень обогащения расщепляющихся материалов и их чистота. Изотопная масс-спектрометрия углеродных атомов при- меняется для медицинской диагностики инфицированности человека Helicobacter. Масс-спектрометрия используется: для определения нали- чия допинга в крови спортсменов; для оптимизации процессов перера- ботки нефти и поиска новых нефтяных полей; для контроля окружаю- щей среды над незаконным распространением наркотических и психо- тропных средств; для криминалистического и клинического анализа токсичных препаратов, анализа взрывчатых веществ. Масс- спектрометрия применяется в фармацевтике, парфюмерии, пищевой промышленности, производстве полимеров и пластиков, геохимии, гео- логии, гидрологии, металлургии и т. д.
153
Первые масс-спектры были получены в Великобритании Дж.Дж. Томсоном (1910), а затем Ф.У. Астоном (1919). Они привели к откры- тию стабильных изотопов.
4.1. Принцип действия масс-спектрометра
Существуют различные способы ионизации атомов и молекул (таб. 4.1).
Таблица 4.1 Способы ионизации атомов и молекул
Способы ионизации Аналитическое использование
1. Электронный удар Изотопный анализ, молекулярный ана- лиз неорганических газов.
2. Химическая ионизация Анализ органических соединений. 3. Искровой разряд. Лазерное излучение. Бомбардировка пучком ионов
Электронный анализ твердых неоргани- ческих веществ.
Ионизованные молекулы и атомы разделяют по их массам в масс- спектрометре. Скелетная схема масс-спектрометра представлена на ри- сунке 4.1.
Рис. 4.1. Скелетная схема масс-спектрометра: 1 – система подготовки и вве- дения исследуемого вещества; 2 – ионный источник; 3 – масс-анализатор; 4 – при- емник ионов; 5 – усилитель; 6 – регистрирующее устройство; 7 – ЭВМ; 8 – систе- ма электрического питания; 9 – откачные устройства. Пунктиром обведена ваку-
умируемая часть прибора
154
К основным характеристикам масс-спектрометров относят: массовая область – диапазон массовых чисел однозарядных
ионов, которые могут быть зарегистрированы на данном приборе (ниж- няя граница составляет обычно 1–2 а.е.м., верхняя граница для прибо- ров среднего класса – 500 а.е.м, для специальных исследований – более 2000 а.е.м);
разрешающая способность – возможность раздельной реги- страции близких по массам ионов. Масс-спектр должен иметь разре- шенные линии (узкие пики прямоугольной формы). Реально же, в ре- зультате различного рода искажений ионного пучка, а также инерцион- ности регистрирующей аппаратуры, в масс-спектре наблюдаются заост- ренные пики, которые отличаются друг от друга шириной по основанию и глубиной провала между пиками. Чем больше глубина провала, тем больше разрешающая способность прибора. В зависимости от глубины ложбины между двумя соседними пиками принято говорить о разреше- нии на уровне 10 % от высоты пиков для магнитных приборов и 50 % – для квадрупольных. Разрешение масс-спектрометра – это возможность получать на данном приборе раздельный сигнал от двух ионов с масса- ми m и (m+ m);
чувствительность – минимальное количество анализируемого вещества, при котором показания прибора превышают уровень шумов не менее, чем в два раза. Чувствительность может определяться мини- мальной относительной концентрацией вещества в пробе (до 10
-7 %),
минимальным парциальным давлением (до 10 -14
Па), или минимальным абсолютным количеством введенной пробы (до 10
-12 г и менее);
скорость сканирования. Масс-анализатор пропускает ионы с определенным соотношением массы и заряда в определенное время. Для проведения анализа необходимо сканировать все ионы, и чем больше скорость сканирования, тем лучше. От скорости зависит точ- ность и время анализа.